La métrologie : une science au cœur des technologies contemporaines

8:30 - 9:30 (1h)

Accueil café, Enregistrement

Cloître

9:30 - 9:40 (10min)

Ouverture des JS 2025

Amphi Pasquier

Lluis M. Mir, Joseph Achkar, Alain Sibille

9:40 - 10:20 (40min)

Exposé keynote: La convention du mètre Convention et le SI : 150 années pour servir de nouveaux développements technologiques

Amphi Pasquier

Marc Himbert (CNAM)

10:20 - 10:50 (30min)

Pause café

Cloître

10:50 - 11:50 (1h)

Capteurs électromagnétiques et optiques

Amphi Pasquier

› Capteur résonnant pour détection d'obstacles dans de l'eau douce - Nicolas TROESCH, Institut d'Electronique et des Systèmes, Hydrosciences Montpellier 10:50-11:10 (20min)

› First steps of low cost PCB E-near field radiation metrology with microwave imaging scanner - Nolane DELILLE, Université de Bourgogne - Jerome ROSSIGNOL, Université de Bourgogne - SEBASTIEN LALLECHERE, Safran Tech - BLAISE RAVELO, NUIST 11:10-11:30 (20min)

› Micro-resonators for dynamic investigation of soft matter: From particle sedimentation to product stability - Jordan Gastebois, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique 11:30-11:50 (20min)

11:50 - 12:20 (30min)

Exposé invité : Imagerie par caméra planaire micro-ondes pour la détection du cancer du sein à l'aide d’apprentissage profond

Amphi Pasquier

Ambroise Diès, Nadine Joachimowicz et Hélène Roussel (GEEPS, Sorbonne Université)

12:20 - 14:00 (1h40)

Déjeuner

14:00 - 14:30 (30min)

Exposé invité : Mesure non perturbatrice de champs électromagnétiques avec des antennes RX optiques

Amphi Pasquier

Lionel Duvillaret (KAPTEOS)

14:30 - 15:30 (1h)

Dosimétrie électromagnétique et exposimétrie

Amphi Pasquier

› Correlation Analysis on UL EMF Exposure in France Metropolitan Areas - QUNFEI SUN, Laboratoire d'Informatique Paris Descartes 14:30-14:50 (20min)

› Hybrid approach of the measurement of actual head EMF exposure - Shanshan Wang, Télécom Paris 14:50-15:10 (20min)

› Méthode TLM avec maillage hexaédrique non-orthogonal pour applications en dosimétrie numérique - Abdelrahman IJJEH, Laboratoire d'Electronique, Antennes et Télécommunications - marylene Cueille, Laboratoire d'Electronique, Antennes et Télécommunications - Alexandre Debard, Laboratoire d'Electronique, Antennes et Télécommunications - Soukaina Mifdal, Laboratoire d'Electronique, Antennes et Télécommunications - Jean-Lou Dubard, Laboratoire d'Electronique, Antennes et Télécommunications - Michel Ney, Département Micro-Ondes 15:10-15:30 (20min)

15:30 - 15:50 (20min)

Exposé industriel: Phase Noise Analysis Overview

Amphi Pasquier

Karim Louertani, Rohde & Schwarz

15:50 - 16:20 (30min)

Pause café

Cloître

16:20 - 16:50 (30min)

Exposé invité : La métrologie au cœur des réseaux : l’aventure REFIMEVE

Amphi Pasquier

Paul-Eric Pottie (LNE-OP, CNRS)

16:50 - 17:10 (20min)

Mesures électromagnétiques des objets biologiques, diagnostics et bio-détection

Amphi Pasquier

› Analyse non-invasive du taux de sucre dans les tubercules de pommes de terre par mesures diélectriques micro-ondes - Clément Lenoir, Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 16:50-17:10 (20min)

17:10 - 17:30 (20min)

Session ouverte

Amphi Pasquier

› Negative time experimentation with RC-network based low-pass NGD circuit - Blaise Ravelo, NUIST 17:10-17:30 (20min)

17:30 - 17:40 (10min)

Pause

Amphi Pasquier

17:40 - 18:00 (20min)

Remise de la médaille du CNFRS / URSI France par Francis-André Wollman - Chair: Lluis M. Mir

Amphi Pasquier

18:00 - 18:40 (40min)

Exposé invité par Joe Wiart, médaillé 2025

Amphi Pasquier

19:00 - 21:00 (2h)

Cocktail dinatoire

Cloître