La métrologie : une science au cœur des technologies contemporaines>
First steps of low cost PCB E-near field radiation metrology with microwave imaging scanner
Nolane Delille  1, @  , Jerome Rossignol  1, @  , Sebastien Lallechere  2, *, @  , Blaise Ravelo  3, @  
1 : Université de Bourgogne
Université Bourgogne Europe
Dijon -  France
2 : Safran Tech
SAFRAN (FRANCE)
rue des Jeunes Bois 78772 Magny-les-Hameaux -  France
3 : NUIST
Nanjing -  Chine
* : Auteur correspondant
Type : : Oral
Langue du texte intégral : français
Thématiques : Capteurs électromagnétiques et optiques
Mots-Clés : Electric near ; field (E ; NF) ; test bench ; microwave imaging technique ; PCB emission
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