Mesures haute fréquence, outils et méthodes de calibrage
Amphi Pasquier
Omar Elmazria, Djamel Allal
› Station de Mesure on-Wafer Nano-Robotisée Assistée par IA : Automatisation, Précision et Évaluation des Performances - Clément Lenoir, Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520, Institut de Recherche sur les Composants logiciels et matériels pour l'Information et la Communication Avancé - USR 3380 - Kamel Haddadi, Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520, Institut de Recherche sur les Composants logiciels et matériels pour l'Information et la Communication Avancé - USR 3380
11:20-11:40 (20min)