› Capteur résonnant pour détection d'obstacles dans de l'eau douce - Nicolas TROESCH, Institut d'Electronique et des Systèmes, Hydrosciences Montpellier
10:50-11:10 (20min)
› First steps of low cost PCB E-near field radiation metrology with microwave imaging scanner - Nolane DELILLE, Université de Bourgogne - Jerome ROSSIGNOL, Université de Bourgogne - SEBASTIEN LALLECHERE, Safran Tech - BLAISE RAVELO, NUIST
11:10-11:30 (20min)
› Micro-resonators for dynamic investigation of soft matter: From particle sedimentation to product stability - Jordan Gastebois, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique
11:30-11:50 (20min)
Electromagnetic measurements of biological objects, diagnostics and bio-detection
Amphi Pasquier
Christophe Roblin, Katia Grenier
› Analyse non-invasive du taux de sucre dans les tubercules de pommes de terre par mesures diélectriques micro-ondes - Clément Lenoir, Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
16:50-17:10 (20min)
› Novel Thermopile Design for Waveguides and Coaxial Microcalorimeters in the Frequency range from DC – 40 GHz - Doudou BA, Laboratoire National de Métrologie et dÉssais [Trappes]
10:10-10:30 (20min)
› Calibrated measurements of dopant concentration on vertical nanowires by scanning microwave microscopy - José A. Morán-Meza, Laboratoire National de Métrologie et d'Essais [Trappes]
10:30-10:50 (20min)
High frequency measurements, calibration tools and methods
Amphi Pasquier
Omar Elmazria, Djamel Allal
› Station de Mesure on-Wafer Nano-Robotisée Assistée par IA : Automatisation, Précision et Évaluation des Performances - Clément Lenoir, Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520, Institut de Recherche sur les Composants logiciels et matériels pour l'Information et la Communication Avancé - USR 3380 - Kamel Haddadi, Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520, Institut de Recherche sur les Composants logiciels et matériels pour l'Information et la Communication Avancé - USR 3380
11:20-11:40 (20min)
› On-Wafer Calibration for Nanodevice Characterization up to 110 GHz - Daouda Seck, Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520, Laboratoire National de Métrologie et d'Essais [Trappes]
11:40-12:00 (20min)
› Densités de Probabilité du Lag-1 dans les Séries Temporelles Linéaires et Circulaires Modélisant les Processus de Brassage - Rabah Florian Monsef, GeePS
12:00-12:20 (20min)
Electromagnetic localization and radar, measurements of SER and signatures
Amphi Pasquier
Julien Sarrazin, Kamel Haddadi
› Localization of metalic lost tools using UHF RFID system - Nawres Hamrouni, Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués
14:30-14:50 (20min)
› Metasurface for direction of arrival estimation - Nawel Meftah, LEME, Univ Paris Nanterre - Shah Nawaz Burokur, LEME, Univ Paris Nanterre
14:50-15:10 (20min)
› Surveillance de foule à l'aide d'une antenne à ondes de fuite dans une communication et détection intégrées - Mathis Melki, Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris
15:10-15:30 (20min)
› Stacked Multi-Via Mushroom-Type EBG Structures with Glide Symmetry - Ashray Ugle, Laboratorie de Génie Électrique et Électronique de Paris, Université Paris-Saclay, CentraleSupélec, CNRS, 1Sorbonne Université
16:00-16:20 (20min)
› Dispersive Analysis of Waveguides for Leaky-Wave Antennas - Yuhuan Tong, Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris, Laboratoire de Génie Electrique et Electronique de Paris
16:20-16:40 (20min)
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Cloître
